Nowoczesne smartfony narażone na ataki

Hakerski konkurs Mobile Pwn2Own zorganizowany w Japonii, wykazał sporo luk w oprogramowaniu nowych smartfonów. Najgorszej wypadł iPhone 7.

Pośpiech we wprowadzaniu nowych modeli smartfonów na rynek sprawia, że ich oprogramowanie pełne jest luk mogących zagrażać bezpieczeństwu użytkownika. Producenci nie mają bowiem czasu należycie go przetestować, poprawiając wszystkie błędy.

Potwierdził to dwudniowy konkurs Mobile Pwn2Own, który odbywa się w Japonii. Impreza zorganizowana przez firmę Trend Micro w ramach inicjatywy Zero Day, ma na celu wyszukanie groźnych luk w nowych smartfonach, a następnie ich załatanie. Pierwszy dzień konkursu przyniósł bardzo zaskakujące rezultaty.

Hakerzy podczas zmagań musieli włamać się do trzech modeli smartfonów, mianowicie iPhone 7 z iOS 11.1, Samsung Galaxy S8 oraz Huawei Mate 9 Pro. Bardzo kiepsko wypadł produkt firmy Apple. Programistom udało się włamać do niego trzykrotnie, wykorzystując m.in., bugi w WiFi, systemie operacyjnym oraz przeglądarce. Do Galaxy S8 włamano się raz, za pomocą przeglądarki. Tyle samo razy złamano zabezpieczenia Huawei Mate 9 Pro.

To wyniki z pierwszego dnia konkursu, a hakerzy którzy odkryli luki, zarobili na tym kilkaset tysięcy dolarów. Natomiast dziś odbędzie się sześć kolejnych prób włamania, podczas których hakerzy będą włamywać się również do Google Pixel.

Źródło: Neowin.net